涂层厚度测量仪原理(涂层测厚仪的五种测量原理)
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涂层厚度测量仪原理(涂层测厚仪的五种测量原理)
涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂层厚度。
涂层测厚仪具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（APPL）；
设有五个统计量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）
涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型：
1.磁性测厚法：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢，铁，银，镍。此种方法测量精度高。
2.涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法：适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。
4.电解测厚法：此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。
5.放射测厚法：此处仪器价格非常昂贵（一般在10万RMB以上），适用于一些特殊场合。
国内目前使用zui为普遍的是第1/2两种方法。
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