探针夹具(WLCSP49-04间距测试座IC测试治具)
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探针夹具(WLCSP49-04间距测试座IC测试治具)
※ 采用手动翻盖式结构，操作方便；
※ 上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，压力均匀，不移位；
※ 探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；
※ 高精度的定位槽，保IC定位精确；
※ 采用浮板结构有球无球都能测,
※ 探针材料，
※ 探针可更换，维修方便，成本低。
※ 绝缘材料制作；
※ 最小可做到跳距pitch=0.35mm(引脚中心到
中心的距离）；
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